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材料学院“材料分析测试技术学堂”系列讲座第16期成功举办

  

 

  2019年11月6日上午9:00至12:00,由北京理工大学材料学院先进材料实验中心主办的“材料分析测试技术学堂”第16期- “X射线光电子能谱(XPS)的数据处理”在5号教学楼1011会议室举行。讲座邀请了高德英特公司的中国区执行总监叶上远和应用专家鞠焕鑫博士详细介绍了X射线光电子能谱(XPS)的原理、XPS的优势及特点、XPS分峰拟合、数据处理以及样品制备对数据结果的影响, XPS变角分析和C60溅射源的应用等。继2019年1月11日 “材料分析测试技术学堂”第7期“PHI CHINA表面分析技术应用研讨会”之后,先进材料实验中心的PHI Quantera II X射线光电子能谱仪运行良好,测试样品量多,这次讲座关于“X射线光电子能谱(XPS)的数据处理”的内容贴切符合师生们的期望,学校相关师生50多人参加了报告会,并进行了深入的技术交流和探讨,还安排了PHI Quantera II XPS的上机操作演示和和现场指导。

 

  

 

  X射线光电子能谱(XPS),是一种高灵敏高精度的表面分析技术,可以提供固体表面和界面的化学信息。XPS可以检测除氢和氦以外元素周期表中所有元素;可观测化学位移,提供与化学态、分子结构,官能团相关的信息;可定量测定元素的相对浓度,测定同一元素不同化学态的相对浓度;采样深度约为1~10nm。XPS广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、牙齿,骨骼,医疗植入物、生物材料等各个领域的研究。